Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
http://thuvien.ued.udn.vn/handle/TVDHSPDN_123456789/13756Toàn bộ biểu ghi siêu dữ liệu
| Trường DC | Giá trị | Ngôn ngữ |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Nguyễn Huyền, Tùng | vi |
| dc.date.accessioned | 2015-08-13T08:35:41Z | - |
| dc.date.available | 2015-08-13T08:35:41Z | - |
| dc.date.issued | 2009 | vi |
| dc.identifier.citation | Communications in Physics Vol. 19, No 2(2009) | vi |
| dc.identifier.uri | http://thuvien.ued.udn.vn/handle/TVDHSPDN_123456789/13756 | - |
| dc.language.iso | vi | vi |
| dc.subject | Vật lý học | vi |
| dc.title | Interface-roughness Parameters Determination from Mobility Ratio Scattering | vi |
| dc.type | Article | vi |
| Bộ sưu tập: | Toán học (TC) | |
Các tập tin trong tài liệu này:
Không có tập tin nào liên quan với tài liệu này.
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.
